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　　分光光度計產生雜散光的因很多，其較主要的原因大致有以下9個方面：

　　1、灰塵沾污光學元件，如光柵、棱鏡、透鏡、反射鏡、濾光片等；

　　2、光學元件被損傷，或光學元件產生的其他缺陷，如光柵、透鏡和反射鏡、棱鏡材料中的氣泡等；

　　3、準直系約部或有關隔板邊緣的反射；

　　4、光學系統或檢測器沒有作適當的屏蔽；

　　5、熱輻射或熒光引起的二次電子發射；

　　6、狹縫的缺陷；

　　7、光束孔徑不匹配；

　　8、光學系統的像差；

　　9、單色器內壁黑化處理不當。

　　分光光度計只測試220nm處的雜散光，

　　不測試340nm處的雜散光，

　　這樣是不正確的，

　　需測試220nm處雜散光是因為：

　　①據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小，容易顯現雜散光；

　　②根根據量子光學理論，波長是能量的倒數，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；

　?、鄹鶕x器學理論中的光電發射理論，光電倍增管在220nm處的光譜響應(靈敏度)低，容易顯現雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的，因為340nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調換濾光片的地方，此時容易產生雜散光。所以，對于分光光度計來講，應該測試220nm和340nm兩處的雜散光。

　　雜散光的測試方法：

　　1、首先將參比液注入配對石英石吸收池，分別放置在參比池座和試樣池座內。再測定波段掃描基線并使之平滑。

　　2、將減光片插入試樣光路的濾光片槽內，其讀數即為減光片的衰減值K，然后將減光片插入參比光路的濾光片座內，

　　3、將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液，插入試樣試樣池座中，在相應的波段內掃描、打?。辉谟涗浖埖淖鳂松狭咳y定波長處的透光度，乘以衰減值K，即得各測定波長處的雜散光值。